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型号 | SE-101 |
重复性 | 厚度0.1nm,折射率0.001 |
测量速度 | 0.05秒/测量点 |
光源 | 636nm 半导体激光器 |
测量点 | 1mm |
入射角 | 70度 |
测量尺寸 | 4英寸, |
仪器尺寸和重量 | 250x175x218.3mm/4kg |
数据接口 | 千兆以太网（摄像机信号），RS-232C |
功率 | AC100-240V（50/60Hz） |
软件 | SE-View |
凑型桌面式椭偏仪 SE-102
型号 | SE-102 |
重复性 | 厚度0.1nm,折射率0.001 |
测量速度 | 0.05秒/测量点 |
光源 | 636nm 半导体激光器 |
测量点 | 1mm |
入射角 | 70度 |
测量尺寸 | 4英寸,1轴自动，2轴手动 |
仪器尺寸和重量 | 300x235x218.3mm/4kg |
数据接口 | 千兆以太网（摄像机信号），RS-232C |
功率 | AC100-240V（50/60Hz） |
软件 | SE-View |
快速映射椭偏仪 ME-110
型号 | ME-110 |
重复性 | 厚度0.1nm,折射率0.001 |
测量速度 | 每分钟1000个点以上 |
光源 | 636nm 半导体激光器 |
测量点 | 0.5mm |
入射角 | 70度 |
测量尺寸 | 6英寸 |
仪器尺寸和重量 | 650x650x1740mm/120kg |
数据接口 | 千兆以太网（摄像机信号），RS-232C |
功率 | AC100-240V（50/60Hz） |
软件 | SE-View |
型号 | ME-110 |
重复性 | 厚度0.1nm,折射率0.001 |
测量速度 | 每分钟1000个点以上 |
光源 | 636nm 半导体激光器 |
测量点 | 0.0055-0.5mm |
入射角 | 70度 |
测量尺寸 | 6英寸 |
仪器尺寸和重量 | 650x650x1740mm/120kg |
数据接口 | 千兆以太网（摄像机信号），RS-232C |
功率 | AC100-240V（50/60Hz） |
软件 | SE-View |
允许厚度分布的测量，例如，透明电极膜和取向膜与基底玻璃的透明基板
型号 | ME-110-T |
重复性 | 厚度0.1nm,折射率0.001 |
测量速度 | 每分钟1000个点以上 |
光源 | 636nm 半导体激光器 |
测量点 | 0.5mm |
入射角 | 70度 |
测量尺寸 | 6英寸 |
仪器尺寸和重量 | 650x650x1740mm/120kg |
数据接口 | 千兆以太网（摄像机信号），RS-232C |
功率 | AC100-240V（50/60Hz） |
软件 | SE-View |
高速，高解析度的表面分布测量