应力双折射仪器
WPA-100-MICRO显微大相位差应力双折射仪
应力双折射仪器简介:
应力双折射仪,能够快速、精准测量双折射相位差及其空间分布和方向。广泛应用于玻璃、晶体、聚合物薄膜、镜片、晶片等质量分析和控制领域。
日本Photonic-lattice公司成立于1996年,以日本东北大学的光子晶体的研究技术为核心,成立的合资公司,尤其是其光子晶体制造技术领先世界,并由此开发出的测量仪器。
PHL显微镜下的双折射测量 WPA-100-MICRO
匹配显微镜测量双折射
测量光学薄膜、钢化玻璃、有机晶体
薄膜、金属晶体、不透明基板等材料
在显微镜视场下评估和管理双折射分布