半球发射率测定仪
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测定方法    
半球发射率εH
半球发射率测定范围    0.05~0.95
检测器波长范围    
0.6~42μm(300K理论黑体总放射能量的95%)
测定的不确定性    半球发射率值±0.03
测定时间    1~3分
基准样品    
低半球发射率εH=0.05@293K (镀金镜面/ Edmund)
高半球发射率εH=0.85@293K(Sheldahl制)
电源    DC12V1A
尺寸规格    
操作部分:W145×D82×H32 (mm)
测定部分:W125×D60×高74 (mm)
重量    
操作部分:约200g
测定部分:约700g
储存环境    
温度:10~45℃
湿度:50%RH
附件    
使用手册
CD(驱动程序)
USB数据线 (Type A-Type B)
电源线


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