【技术特点】-- 三维表面形貌仪 SURFIEW 2000

Economy

反复性、准确性、重现性极佳

消振桌

手动安装镜头

优秀的Capacity Sensor

自动过滤

缝纫功能

产品概要

三维表面轮廓仪利用光的干扰，可迅速，准确，并高检测性的对1nm~10mm高度的模型的表面想象进行纳米单位测量。相比接触性方式，不会对测量物造成任何损伤，相比共焦方式，高解像力无关倍率均可得到统一结果，与AFM相比，可在宽测量领域内快速测量。

高度解像力0.1nm

任何倍率下，解像力均统一

测量纳米等级

测量高速，高精密度，高解像力表现形象

可测量透明/半透明/不透明登各种样品

无需非破坏，预加工程序即可轻松测量

反复性，准确性，重现性极佳

主要特征

测量高度，长度，段差，线，圆，弧，角度，款，宽，距离

面粗糙度，线粗糙度，波形

测量划痕，磨损，缺陷

测量面积，大小

利用光的干涉信号，将表面的形状到1nm~10cm为止，没有材料的破损，从相机中显示的全部领域，正确，检测到高强度为单位。

干涉信号是在任意义的基准点中，同时出现的光在移动到不同的场景（optical path），在移动后合上的时候，用两个场景（optical path）的物理现象，是一种明亮的明亮的形态，这是干涉信号。

【技术特点对用户带来的好处】-- 三维表面形貌仪 SURFIEW 2000

【典型应用举例】-- 三维表面形貌仪 SURFIEW 2000