FT160 XRF 镀层分析仪
参数指标我要纠错



  • 高分辨率 SDD

  • 元素范围: 铝 - 铀

  • 样品舱设计:开闭式

  • XY 轴样品台选择:自动台、晶片样品台

  • 最大样品尺寸:600 x 600 x 20 毫米

  • 滤光片:1 或 3

  • 毛细管聚焦光斑尺寸< 20µm

  • XRF控制器软件






相关涂镀层及薄膜测厚仪