【技术特点】-- 扫描探针式TEM电学系统

概述：

　透射电子显微镜是唯一的提供在较高时间分辨率下得到原子级空间分辨率的实验手段。透射电子显微镜原位电学性能测试系统是在标准外形的透射电镜样品杆内加装扫描探针控制单元，通过探针对单个纳米结构进行操控和电学测量。并可在电学测量的同时，动态、高分辨地对样品的晶体结构、化学组分、元素价态进行综合表征，极大地扩展了透射电子显微镜的功能与应用领域。

　　本系统包括包括两部分，分别是扫描探针控制器（内含电压源、电流放大器）与原位测量样品杆部分。

功能：

应用案例

【技术特点对用户带来的好处】-- 扫描探针式TEM电学系统

【典型应用举例】-- 扫描探针式TEM电学系统