飞纳台式扫描电镜 Phenom X 断面观测插件技术特点

【技术特点】-- 飞纳台式扫描电镜 Phenom X 断面观测插件

使用金相插件观察涂层和多层样品的断面是非常快和方便的，且不需要螺丝和其它工具来固定样品。

规格参数：

• 容易固定，不需要螺丝和其他的工具

X 断面插件

微型电子元器件插件是设计用来最小化制样时间的。

插件配合金相样品杯使用。

微型电子元器件插件

规格

• 厚度: 达10 mm

• 宽度: 达25 mm

• 高度: 达15 mm

主要优势

• 不需要使用螺丝或其他工具简易夹持

• 在树脂台试样和插件之间有了新的选择

【技术特点对用户带来的好处】-- 飞纳台式扫描电镜 Phenom X 断面观测插件

【典型应用举例】-- 飞纳台式扫描电镜 Phenom X 断面观测插件

【产品所获奖项】-- 飞纳台式扫描电镜 Phenom X 断面观测插件

使用金相插件观察涂层和多层样品的断面是非常快和方便的，且不需要螺丝和其它工具来固定样品。

规格参数：

• 容易固定，不需要螺丝和其他的工具