CMI900|镀层测厚仪技术特点

【技术特点】-- CMI900|镀层测厚仪

广东正业提供CMI900镀层测厚仪,CMI700涂层镀层测厚仪,CMI500铜厚测厚仪,CMI165等涂镀层测厚仪,元素分析仪,无损检测测厚仪.广东正业中国大陆的牛津仪器一级代理,专业销售维修:X-STRATA960,980等各种型号涂镀层测厚仪,拥有一支经验丰富的服务团队,为客户提供及时,优质的售前/售后服务和技术支持。

CMI900用于镀层厚度测量以及分析镀层金属成分、镀液，是一款专用镀层测厚仪、（印制线路板之金/镍、锡/铅、锡/银等）的非破坏性精确测量及材料成分分析。

CMI900镀层测厚仪用途：

1.多镀层金属厚度测

2.合金鉴定及化学分析

3.电镀液分析

4.金成色分析

CMI900镀层测厚仪特征：

应用X射线荧光原理测量，精确度高且不破坏样品。

NIST（美国国家标准和技术学会）认可的标准片。

CMI900系列膜厚测试仪能够测量多几种形状，各种尺寸的样品；并且测量点zei小可达0.025×0.051毫米。

CMI900系列采用开槽式样品室，以方便对大面积线路板样品的测量。它可提供五种规格的样品台供用户选择用，分别为：标准样品台，XY轴固定，Z轴自动控制；扩展型标准样品台，XY轴固定，Z轴自动控制；可调高度型标准样品台，XY轴手动控制、Z轴自动控制；程控样品台，XYZ轴自动控制；超宽程控样品台，XYZ轴自动控制。

【技术特点对用户带来的好处】-- CMI900|镀层测厚仪

【典型应用举例】-- CMI900|镀层测厚仪