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日立 SFT-110 X射线荧光镀层厚度测量仪
日立
进口 X射线荧光测厚仪
参考成交价格:
35万元[人民币]
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参数
指标
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测量元素:
原子序数22(Ti)~83(Bi)
检测器:
比例计数管
X射线源:
空冷式小型X射线管(50kV、1mA)
准直器:
O型:Φ0.1mm、Φ0.2mm
样品观察:
CCD摄像头(可广域观察)
样品台:
250(X)×200(Y)×150(Z)mm
X-Ray Station:
电脑、19英寸液晶显示器
测量软件:
薄膜FP法(zei大5层、各层10种元素)、检量线法
数据处理软件:
配备Microsoft Office办公软件
安全构造:
样品的防冲撞功能,仪器诊断功能
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