红外（IR）分析   半导体红外分析避免了在过程流中循环的溶解金属或其它颗粒物所造成的干扰。

插入式测量  不需要引出过程支流，可通过光纤传输的红外线对管道中的过程流直接进行测量。

远程监测   WPA可以设置在离测量点（ClippIR+）远达100米处，如果必要，还可以将其放在室外。