CM100膜厚仪
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技术参数

1. 光谱范围:370-1000nm

2. 光谱分辨率:1.6nm

3. 测量光斑:典型1.5mm

4. 最大样片厚度测量范围:15nm- 100μm

5. 膜厚测量重复性:0.1nm

6. 测量膜层数目:4层

7. 准确度:2nm或0.4%

8. 单次测量时间:典型1-2秒


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