德国KSI超声波缺陷检测系统i-Wafer 技术特点

【技术特点】-- 德国KSI超声波缺陷检测系统i-Wafer

德国KSI-凯斯安i-Wafer型
全自动晶圆超声波缺陷检测系统

i-Wafer系列是一款高端仪器，操作人员可选择接收/拒绝标准，手动或自动检测晶圆。在KSI i-Wafer的探测下，晶圆中的孔隙、分层或者杂质都能被发现。尺寸在450mm的多种晶圆也能进行检测

【技术特点对用户带来的好处】-- 德国KSI超声波缺陷检测系统i-Wafer

【典型应用举例】-- 德国KSI超声波缺陷检测系统i-Wafer