Sentech 激光椭偏仪 SE 400adv参数指标

稳定的氦氖激光器保证了0.1埃精度的超薄单层薄膜厚度测量。

多角度测量的完全集成支持(40°—90°,5°步进)，可用于确定层叠的厚度、折射率和消光系数。