技术参数与特点
+高稳定性与低漂移(在大气环境中:<10nm/h)
+适用不同环境,从大气到真空
+镜头NA=0.95,收光效率高,工作距离 WD=0.3mm
+极高自由度(AFM探针、样品粗位移与精细扫描器、高NA镜头)
+样品粗位移范围:15×15×15mm3; 样品精细位移:20×20×7mm3
+AFM探头粗位移范围:15×15×15mm3; 样品精细位移:20×20×7mm3
+高NA镜头移动范围:在Z方向上可移动15mm
+可升级至低温强磁场磁共振显微镜
+光学测量可选透射式与反射式