Alicona高精度光学坐标测量仪μCMM技术特点

【技术特点】-- Alicona高精度光学坐标测量仪μCMM

高精度光学坐标测量仪μCMM是奥地利Alicona公司研发生产的集样品尺寸特性，位置，形状和粗糙度测量功能于一体的全程高精度测量系统。

• 高精度光学坐标测量仪μCMM的突出特点：

  . 极高精度测量公差非常小的部件
  . μCMM是同类产品中最精确的纯光学微坐标测量系统。
  . 用户将触觉坐标测量技术和光学表面测量技术的优势结合起来，只用一个传感器测量零件的尺寸、位置、形状和粗糙度。
  . μCMM提供了更高几何精度的光学三维测量，能够测量大部件上的小表面细节，并精确确定这些单独测量的相对位置。
  . 可测量表面的光谱包括所有常见的工业材料和复合材料，如塑料、PCD、CFRP、陶瓷、铬、硅。
  . 材料从哑光到抛光各种反光成分都可以测量。
  . 操作简单是通过单按钮解决方案，有一个集自动化和人体工程学控制元素特别设计的控制器。
  . 带线性驱动的空气轴承轴可实现无磨损使用和高精度、以及更快速测量。这也使得μCMM非常适合在生产中长期使用。

【技术特点对用户带来的好处】-- Alicona高精度光学坐标测量仪μCMM

【典型应用举例】-- Alicona高精度光学坐标测量仪μCMM