Agilent 8900 串联四极杆 ICP-MS (ICP-MS/MS) 是行业中成功且应用广泛的串联电感耦合等离子体质谱仪。Agilent 8900 ICP-MS/MS 提供了一系列配置,适合从常规商业分析到高级研究和高纯度材料分析的应用,其重新定义了 ICP-MS 性能,可提供可靠的分析结果。
8900 系统具有与安捷伦市场领先的单四极杆 ICP-MS 系统相同的基质耐受性和稳定性,并与超高效的氦 (He) 碰撞模式相结合。但 8900 系统增加了串联质谱操作 (ICP-MS/MS),可对碰撞反应池 (CRC) 中的反应化学过程进行精确的控制,使其成为强大、灵活的多元素分析仪。利用 8900 ICP-MS/MS 控制干扰,让您的结果可靠无疑。
特点:
MS/MS 控制反应化学过程,可确保提供一致、可靠的结果,即使对于此前难以分析的元素(如 Si、P 和 S)也是如此
反应化学过程可解决同量异位素重叠问题,这超出了高分辨率 ICP-MS 的能力
四通道反应池气体控制可提供快速、灵活的多模式操作
一套预设方法简化了常规分析的方法设置
氦气模式可简单、有效地控制常见的多原子干扰
稳定的(低 CeO/Ce)等离子体,可提供出色的基质耐受性
超高基质进样 (UHMI) 技术可耐受总溶解固体量 (TDS) 高达 25% 的样品
高灵敏度和低背景为超痕量分析物提供了超低的检测限
通用性和高性能相结合,支持高级研究和要求苛刻的应用
灵活的操作模式(母离子/产物离子扫描)支持对反应化学模式进行研究
8900 ICP-MS/MS的应用包括:S和Si的检测、单纳米粒子(sNP)分析,临床样品痕量Ti的分析、以及高纯稀土分析、高纯Fe基分析、高纯钢等多种高纯物质中杂质的检测等。
8900特别适用于单纳米粒子(sNP)分析:MSMS反应池模式下可以分析zei困难的元素SiO2、TiO2 sNP;zei佳S/N条件下可分析TiO2 sNP(Si的背景zei低);zei小驻留时间0.1ms和zei高灵敏度可测定zei小粒径的Au和Ag等sNP;功能强大的专业版sNP软件提高了sNP的分析能力。
应用:
ICP-MS/MS 为半导体和材料行业提供了更低的检测限和更出色的干扰控制。领先制造商使用 8900 确保其高纯度工艺化学品和材料的质量。
超高灵敏度、超低背景以及极短的 0.1 ms 驻留时间可确保准确检测出最小纳米颗粒 (NP)。MS/MS 可控制 Si 和 Ti 的干扰,从而实现 SiO2 和 TiO2 NP 的低浓度分析。
MS/MS 控制碰撞/反应池中的化学反应,使研究人员能够分离阻碍地球化学测量的同质异位素重叠。8900 可分离 204Hg 与 204Pb、87Rb 与 87Sr 以及 176Lu 与 176Hf 等重叠,实现准确的地质年代学同位素比值分析。
MS/MS 还可分离用于核研究和核退役测量的放射性核素的直接重叠,提高丰度灵敏度,分离峰拖尾重叠(如 238U 与 237Np)。
安捷伦 ICP-MS/MS 仪器可以分离先前难以分析的元素(如 Cl、P 和 S)的光谱重叠,彻底颠覆了生命科学研究。使研究人员能够对蛋白质和肽直接进行基于 S 和 P 杂元素的单独化合物定量分析。
新型测量的执行能力开辟了药物开发、临床研究和毒液组学等全新的研究领域。