【技术特点】-- Hall8800霍尔效应测试仪器

1	应用范围:	研究半导体器件和半导体材料电学特性、精密测量半导体材料的载流子浓度、迁移率、电阻率、霍尔系数等重要参数
2	规 格:
	2-1	Maximum sample size (Small board) - 15mm x15mm 最大样品尺寸:15mm x15mm (可定制)
	2-2	Measurement Temperature: 300K (room temperature), optional 77K. 测试温度: 室温、可选配液氮低温77K
	2-3	Measurement Material: Semiconductors material such as Si, SiGe, SiC,GaAs, InGaAs, InP, GaN, ITO (N Type & P Type) 测试材质:半导体类材质、如： Si, SiGe, SiC, ZnO, GaAs, InGaAs, InP, GaN, ITO等所有半导体薄膜(P型和N型)
	2-4	Magnet Flux Density: 0.68 Tesla nominal ±1% of marked value 磁场强度: 0.68 Tesla ±1%
	2-5	Magbnet Stability: ±2% over 1 years 稳定性: ±2% （一年后）
	2-6	Uniformity: ± 1% over 20mm diameter from center 均匀度：± 1%(20mm直径圆范围内)
	2-7	Pole Gap: 20 mm 磁极间隙：20毫米
	2-8	Input voltage range: 1μV to 300V 输入电压范围：1μV ~300V
	2-9	Hall voltage range: 10uV to 2000mV 霍尔电压范围: 10uV to 2000mV
	2-10	Resistivity (Ohm.cm): 10-5 to 107 电阻率 (Ω.㎝): 10-5 to 107
	2-11	Mobility (cm2/Volt.sec): 1 ~ 107 迁移率(cm2/Volt.sec): 1 ~ 107
	2-12	Carrier Density (cm-3): 107 ~ 1021 载流子浓度(1/cm3): 107 ~ 1021

【技术特点对用户带来的好处】-- Hall8800霍尔效应测试仪器

【典型应用举例】-- Hall8800霍尔效应测试仪器