STOE 粉晶衍射仪反射...
参数指标我要纠错

反射模式样品II

l  利用反射模式来确定薄膜厚度,组成和界面粗糙度

l  利用掠射实验来对薄膜进行相分析


相关X射线衍射仪(XRD)