创想XRF荧光光谱仪
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EDXRF能量色散X射线荧光光谱分析

产品概述

能量色散X荧光光谱分析仪体积小、稳定性好、分析快速准确、运行成本低、操作维护方便、是控制产品质量的理想选择。可测定铅Pb、汞Hg、镉Cd、铬Cr、溴Br等元素。硅半导体探测器,通过智能激发和检测设计实现高灵敏度,用户可自定义多曲线多光谱拟和分析方法,适用于不同的应用场合。


内容描述



仪器型号

EDXRF


分析原理

能量色散X射线荧光分析法


分析元素范围

Na(11)-U(92)任意元素


检出下限

Cd/Hg/Br/Cr/Pb≤2 ppm


样品形状

任意大小,任何不规则形状


样品类型

塑胶/金属/薄膜/粉末/液体等


X射线管

靶材

钼(Mo)靶

管电压

5─50KV


管电流

1─1000uA


样品照射直径

2、5、8mm


探测器

美国进口Si-PIN探测器,高速脉冲高度分析系统


高压发生器

美国SPELLMAN高压发生器


前置放大器

美国进口前置放大器,与美国进口探测器兼容性好


主放大器

美国进口主放大器,与美国进口探测器兼容性好


AD转换模块

美国进口AD转换模块,与美国进口探测器兼容性好


ADC

2048道


滤光片

6种滤光片自动选择并自动转换


样品观察

130万彩色CCD摄像机


分析软件

zl软件产品 BX-V26版本,终身免费升级


分析方法

理论alpha系数法、基本参数法、经验系数法


操作系统软件

WINDOWS XP(正版)


数据处理系统

主机

PC商务机型

CPU

P4 3.0


内存

512MB


光驱

8xDVD


硬盘

80G


显示器

17寸液晶显示器


工作环境

温度10-35С,湿度30-70%RH


重量

60Kg(主机部分)


外形尺寸

550(W)×450(D)×450(H)mm


外部供电电源要求

AC220±10%、50/60Hz


测定条件

大气环境


测试样品时间

100-300秒可调


环境温度

10℃-28℃


环境湿度

≤70 %RH(25℃室温)


应用领域

EDXRF能量色散X射线荧光光谱分析仪应用于石化产品,塑料和聚合物,食品和化妆品,环境,矿石,医药,建筑材料,中心实验室成品检验,金属材料等。

工作原理

采用的是X射线荧光分析原理,受激发的样品中的每一种元素会放射出二次X射线,并且不同的元素所放射出的二次X射线具有特定的能量特性或波长特性。探测系统测量这些放射出来的二次X射线的能量及数量。然后,仪器软件将探测系统所收集到的信息转换成样品中各种元素的种类及含量。


仪器结构

相关X荧光光谱/XRF(能量色散型X荧光光谱仪)