ORTEC γ能谱仪

ORTEC γ能谱仪

参考成交价格: 10~15万元[人民币]
技术特点

【技术特点】-- ORTEC γ能谱仪

新型数字化谱仪:DSPEC-LF-jr2.0, -Pro & DigiDART



基本特征:
小巧的外观,强大的功能。
一切控制与参数设置由计算机进行。
高的数据通过率:大于100Kcps (DSPEC-Pro大于130Kcps)。
数字化稳谱、数字化自动极零、自动最优化、内置虚拟示波器和数字化门控基线恢复等功能。
用户可预置多个核素的MDA,在所有MDA满足时自动终止计数。统一的“即插即用”式背面板接口,与DIM/Smart-1匹配,相互间具有良好的互换性与兼容
数字化自动极零:

自动极零技术主要基于解决(中)高计数率情况下分辨率变差的问题。该技术最早与门控基线恢复和脉冲抗堆积功能一起,集中应用于ORTEC 672主放。

自动最优化功能:
对于样品活度水平完全未知的情况,可以通过软件快速设置“自动最优化”功能,由系统快速选定最佳的参数设置。
零死时间校正(ZDT):
在谱获取中,对于中子活化分析中计数率快速衰减、或是在线测量时突然出现的尖峰信号的情况,ZDT方法采用ORTEC精密的Gedcke-Hale时钟进行零死时间校正,以实现无损失计数(Loss-free Counting)。由软件可以快速选定这一功能。经校正的谱图和未经校正的谱图可以同时保存,以作进一步分析。ZDT在显示校正后的谱图的同时给出与之对应的不确定度。
低频抑制器(LFR):
LFR是一项新型的数字化滤波技术,主要用来消除来自于机械制冷、电源电压波动或接地不良等外部因素导致的低频噪声信号,从而使系统的分辨率得到进一步改善。用户可根据情况选择开启或关闭此项功能。
弹道亏损校正/虚拟示波器:(-Pro,-50)
在系统采用相对效率较高的HPGe探测器或遭遇中子损伤的探测器时,弹道亏损效应(Ballistic Deficit)常导致分辨率变差甚至恶化(尤其在高能端),ORTEC数字化谱仪可以通过其内置虚拟示波器轻松解决这一问题:比如对207%的HPGe探测器,将平顶时间设为0.8μs,就能使分辨率达到理想水平。当然,也可以结合软件通过自动最优化功能轻松完成参数设置。



【技术特点对用户带来的好处】-- ORTEC γ能谱仪


【典型应用举例】-- ORTEC γ能谱仪


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