ORTEC高纯锗γ能谱仪

ORTEC高纯锗γ能谱仪参数指标

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技术参数 :


最大数据通过率

大于100kcps(DSPEC-Pro在“增强通过率”模式下大于130kcps)

增益

粗调:1,2,4,8,16,或32

细调:0.45至1.00

成形时间常数

上升时间:0.8至23ms,可调,每步0.2ms,由计算机选择

平顶时间:0.3至2.4ms,每步0.1ms,由计算机选择

自动最优化功能自动调整

转换增益

16384,8192,4096,2048,1024或512道,由计算机选择

非线性

积分非线性:≤±0.025%

微分非线性:≤±1%

数字化稳谱器

由计算机控制并稳定增益和零点

温度系数

增益:<35ppm/°C
零点:<3ppm/°C

过载恢复

在最大增益时,能在2.5倍的非过载脉冲宽度内从1000倍过载恢复至额定输出的2%以内

脉冲抗堆积

自动设定域值,脉冲对分辨率为500ns

自动数字化极零调节

由计算机控制,可以手动或自动设定,远程模拟示波器方式诊断

LLD/ULD

数字下域电平甄别器,以道为单位设置,LLD以下所有各道的计数被卡掉

数字上域电平甄别器,以道为单位设置,ULD以上所有各道的计数被卡掉

数字化门控基线恢复器

可由计算机调节恢复频率(高、低或自动)

数据存储器

存储16384道数据,不丢失,每道容量231-1(约20亿)个计数

计数率显示

在谱仪或电脑屏幕上显示计数率

死时间校正

按Gedcke-Hale法活时间校正,精度(随峰面积而变化):<+3%(0–50,000cps)

显示

240×160像素背光液晶显示(LCD屏,显示活时间、死时间、状态等信息

接口

USB2.0

尺寸与重量

-LF,-jr2.0,-Pro:24.9D×20.3W×8.1Hcm/1.0kg

DIM:11.2D×3.13W×6.5Hcm/240g

DigiDart:20D×10W×7.5Hcm/<900g(含电池)

工作环境条件

-LF,-jr2.0,-Pro5°C到50°C(包括LCD显示)
DigiDART-10°C到60°C

操作系统

Windows98/2000/XP/Vista/NT



 

 

































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