X射线单晶衍射仪
X-ray Single Crystal Diffractometer System
1.用途及特点:
测定新化合物(晶态)分子的准确三维空间(包括键长、键角、构型、构象乃至成键电子密度)及分子在晶格中的实际排列状况;可以提供晶体的晶胞参数、所属空间群、晶体分子结构、分子间氢键和弱作用的信息以及分子的构型及构象等结构信息。它广泛用于化学晶体学、分子生物学、药物学、矿物学和材料科学等方面的分析研究。
精确测定无机物、有机物和金属配合物等结晶物质的三维空间结构和电子云密度,分析孪晶、无公度晶体、准晶等特殊材料结构;可精确测定无机分子、有机分子、矿质材料以及大生物分子的结构,提供全面的结构数据,并可按不同要求提供各种结构图、动态图。
2. 系统总体构成:
高性能混合像素光子直读探测器;
kappa 四圆测角仪;
X 射线金属陶瓷管(Mo 或 Cu);
X 射线发生器;
单毛细管光学器件;
晶体样品液氮低温系统;
晶体样品监视系统;
X 光管的循环冷却水装置;
计算机控制系统;
系统控制和数据收集及数据分析软件。