DIL 402 Expedis Classic -技术参数
温度范围:RT … 1600°C
升温速率:0.001 ... 50 K/min
测量系统:NanoEye(单样品,或双样品/差示系统)
样品支架:熔融石英或氧化铝,可自由更换。
温度准确度:1 K
温度精度:0.1 K
m.CTE(平均线膨胀系数)重复性:10-8 1/K
测量范围:± 5000 μm
分辨率:2 nm(全量程)
样品长度:0…52mm(自动样品长度测量)
气体控制:1 路(标配),或 3 路(选配)
气氛:惰性,氧化性,静态/动态
可选配空气压缩冷却系统