【技术特点】-- 美国Hinds 应力双折射测量系统

美国Hinds成立于1971年，凭借其zl的PEM（光弹变调制）技术研发了高稳定的应力双折射测量系统，具有目前世界上最高的精度，可用于测量以下样品的双折射(快慢轴相位差/延迟度和快轴角度).

? 光学器件

? 液晶玻璃基板, 液晶滤光片

? 激光晶体

? DVDs

? 光刻机部件, 如氟化钙窗口, 融石英光学器件,光掩膜板等

? 相机镜头

? 太阳能硅片,半导体晶圆

【技术特点对用户带来的好处】-- 美国Hinds 应力双折射测量系统

【典型应用举例】-- 美国Hinds 应力双折射测量系统