产品特点:操作简单、快速精确
电阻测量范围:1 mΩ/方块 - 5 MΩ/方块
典型应用:非晶硅/微晶硅和导电膜电阻率测量;选择性发射极扩散片;表面钝化片;交叉指样PN结扩散片;新型电极设计,如电镀铜电阻测量等
美国CDEzl技术: 可针对材料(不同材料、软硬薄膜或离子植入深或浅等条件,对下针状况最佳化。而此功能是可由软见操作,可有0.01mm 的分辨率,而非麻烦的硬件调整。
美国CDEzl技术: 可针对材料(不同材料、软硬薄膜或离子植入深或浅等条件,对下针状况最佳化。而此功能是可由软见操作,可有0.01mm 的分辨率,而非麻烦的硬件调整。