CDE resmap 273 四探针面扫描电阻率电导率测试仪技术特点

【技术特点】-- CDE resmap 273 四探针面扫描电阻率电导率测试仪

产品特点：

操作简单、快速精确

电阻测量范围：1 mΩ/?? - 5 MΩ/??

典型应用：非晶硅/微晶硅和导电膜电阻率测量；选择性发射极扩散片；表面钝化片；交叉指样PN结扩散片；新型电极设计，如电镀铜电阻测量等

美国CDEzl技术: 可针对材料(不同材料、软硬薄膜或离子植入深或浅等条件，对下针状况最佳化。而此功能是可由软见操作，可有0.01mm 的分辨率，而非麻烦的硬件调整。

美国CDEzl技术: 可针对材料(不同材料、软硬薄膜或离子植入深或浅等条件，对下针状况最佳化。而此功能是可由软见操作，可有0.01mm 的分辨率，而非麻烦的硬件调整。

【技术特点对用户带来的好处】-- CDE resmap 273 四探针面扫描电阻率电导率测试仪

【典型应用举例】-- CDE resmap 273 四探针面扫描电阻率电导率测试仪