【技术特点】-- CMC-KUHNKE SRG-4000 易拉盖刻线残余量测定仪

SRG-4000 易拉盖刻线残余量测定仪

刻痕是易拉盖的重要部份， 刻线残留量太厚， 开罐时拉环容易断，残留量太小， 密封不安全， 出现意外被裂甚至泄漏。至今为止，采用景深显微镜的系统取决于操作人员的技术程度， 它们用一个

外加的显示屏和测微计对刻线槽进行聚焦。由于不同的操作人员会对刻线不同地方聚焦，从而使得测量结果可重复性差， 通常会有明显的误差。

QBYV的易拉盖刻线检测仪， 采用创新的方法， 结合切边光学、激光技术及先进的软件处理， 减少测量过程中人为的影晌。该系统有效地改进了检测结果的可重复性， 系统直接与电脑联接，不需要任何外围设备如解码器、外设显示屏， 因而大大减少了成本和维修费用。

优势

● 采用激光聚焦技术

● 适用全部易拉盖型

● 可测量易拉盖的铆钉直径和厚度

应用

● 饮料易拉盖刻痕残余尺寸测量

● 食品易拉盖刻痕残余尺寸测量

技术参数

电源：100-240VAC 50-60Hz	精度：±0.001 mm
分辨率：0.001mm	重复性：0.001 mm

【技术特点对用户带来的好处】-- CMC-KUHNKE SRG-4000 易拉盖刻线残余量测定仪

【典型应用举例】-- CMC-KUHNKE SRG-4000 易拉盖刻线残余量测定仪