产品简介:
X1测量几乎任何纳米材料或薄膜、电介质和金属的由比如气体成分或温度梯度引起的结构和/电介质变化。Insplorion x1仪器包括快速启动和生成高质量数据所需的一切。仪器有两个样品位置,允许进行两次平行测量。我们提供的产品包括所有硬件、软件、支持和初步培训,帮助您开始并理解获得的结果。
Insplorion X1使用远程光学读数,因此只需要将传感器芯片而非敏感光学设备放置在反应室内。因此,X1可以在高温(最高600°C)和常压(大气)下工作,并且仍然保持高分辨率和灵活性。