返回 介质损耗因数测试仪 返回 介质损耗因数测试仪 
我要纠错
ZJD系列介电常数介质损耗因数测试仪用于测量电介质块体或薄膜样品在高低温、真空、气氛等条件下的介电常数和损耗、阻抗谱Cole-Cole图、机电耦合系数。ZJD系列介电常数介质损耗因数测试仪是电介质材料领域最常用的测量仪器，具有快速、高效、灵活、易于操作等特点，适用于教学、科研等各种应用场合。
温度范围:-160,..1000°C （不同炉体）
测量频率：20Hz-30MHz （不同测量仪表）
集成化设计，操作更简单
自主设计新一代电学高温炉，控温精度高
最被业内认可的介电常数仪
符合标准：ASTMD150. D2149-97和T1409-2006
项目/型号 | ZJD-500 | ZJD-1000 | ZJD-2000 |
温度范围 | 室温-500℃ | 室温-1000℃ | -160℃-450℃ |
测量频率 | 20Hz-1MHz | 20Hz-30MHz | |
控温精度 | ±1℃ | ||
温度测量精度 | ±0.1℃ | ||
测量精度 | 0.05% | ||
控温方式 | 连续升温或分段升温 | 多段PID精确控温 | |
升温斜率 | 0-10℃/mm（典型值3℃/min） | ||
降温斜率 | 0-10℃/mm（典型值3℃/min） | ||
测量环境 | 常温、高温、不带真空气氛 | 常温、高温、真空、气氛 | 常温、高温、低温、真空 |
样品规格 | 块体样品：φ＜20mm,d＜25mm 薄片样品：φ＜20mm,d＞21μm | 单样品块体：φ＜20mm,d＜25mm；四样品块体：φ＜10mm 单样品薄片：φ＜20mm,d＞21μm；四样品薄片：φ＜10mm | |
测量原理 | 平行板电容器原理 | ||
测量方式 | 2线-4线测量方式 | ||
电极材料 | 铂金 | ||
显示控制 | 彩色触摸屏 | ||
数据接口 | USB接口 | ||
通讯接口 | - | LAN网口通讯 | |
数据存储 | TXT文本格式或XCEL格式（或安装office软件） | ||
测量夹具 | 单样品夹具 | 单样品夹具或四样品夹具 | |
测量样品 | 块体样品或双面电极薄膜样品 | ||
电极材料 | 铂金电极 | ||
控温方式 | PID精确控温 | ||
配套设备 | 无需外接配套设备，仪器内置1MHz LCR测量板 | 需外接阻抗分析仪 | 需外接阻抗分析仪和低温液氮泵 |
供电 | 220V±10%,50Hz | ||
工作环境 | 0℃-55℃ | ||
存储条件 | -40℃-70℃ | ||
预热时间 | 30分钟 | ||
尺寸（长宽高） | 475*415*610mm | 640*470*610mm | 550*420*330mm |
重量 | 42kg | 54.5kg | 36.5kg |