【简单介绍】
品牌 | 其他品牌 | 价格区间 | 面议 |
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产地类别 | 进口 | 应用领域 | 综合 |
Surfix FN外置探头两用统计型测厚仪 膜厚仪 膜厚计精度±1μm+1%读数.分辨率0.1μm,读数背景光
【详细说明】
Surfix FN外置探头两用统计型测厚仪膜厚仪膜厚计
特点:
l 德国PHYNIX公司制造
l 碳化钨超耐磨测头,快反应速度
l 同屏显示统计数据
l 可存储前200测值
l 可测铁基体上涂镀层和有色金属
l 基体上涂层,量程1500μm
l 精度±1μm+1%读数.分辨率0.1μm,读数背景光
l 有红外可接PC及打印机