英国Jandel四探针测试仪RM3000+技术特点

【技术特点】-- 英国Jandel四探针测试仪RM3000+

Jandel公司提供的RM300测试单元结合可调节高度支架探头,可为各种各样的测量提供解决方案.

这种组合方式是目前Jandel公司最受欢迎的产品.

该系统可用于测量各种薄层的小尺寸样本以及直径300mm高250mm的晶圆锭 (检测厚样品之前要咨询)。

可测晶片直径	D≤250mm，（可选配D≤300mm，无需付费）
可测晶片厚度	H≤250mm,(可更厚，请咨询)
微动开关	防止探针不与样品接触时的电流流动
手动控制	探针接触和移动的简单杠杆操作
装配简单	RM300和四探针探头通过单线连接

系统配置

组成部件：

1. 1. 测试台——一个

2. 2. 可调节高度主机——一台

3. 3. 可调节高度轴杆——一根

4. 4. 四探针探头——一个

5. 5. 连接电缆——一根

设备尺寸：

可调节高度测试台： W×L×H（mm）250×290×8（320×370×8，可选）

可调节高度探头组件：W×L×H（mm）60×280×80（60×330×80，可选）

可调节高度的轴杆:D（mm）19；L（mm）200（可定制最高高度到1000mm）

型号	针尖角（u）	压力（g）	间距（mm）
A	40	100	1
B	100	100	1
C	200	100	1
D	500	70	1
E	40	200	1.591
F	40	100	0.635
G	100	100	0.635
H	200	100	0.635
A-D型号和E-H型号

【技术特点对用户带来的好处】-- 英国Jandel四探针测试仪RM3000+

【典型应用举例】-- 英国Jandel四探针测试仪RM3000+