返回 布鲁克ContourX-500光... 返回 布鲁克ContourX-500光... 
ContourX-500 光学轮廓仪是世界上最全面的自动化台式系统，用于快速、非接触式 3D 表面测量。支持测厚仪的 ContourX-500 具有无与伦比的 Z 轴分辨率和精度，并以更小的占地面积提供了布鲁克白光干涉测量 （WLI） 落地式型号的所有行业公认优势。该轮廓仪可针对最广泛的复杂应用轻松定制，从精密加工表面和半导体工艺的 QA/QC 测量到眼科和 MEMS 设备的研发表征。
倾斜/倾斜光学头
测量一定角度的表面特征，同时最大限度地减少跟踪误差。
最先进的用户界面
提供对大量预编程滤波器和分析库的直观访问。
综合空气隔离
在节省空间的占地面积内提供最佳的计量精度。
特征
布鲁克专有的头部尖端/倾斜为生产设置和检测提供了无与伦比的用户灵活性。通过将自动倾斜/倾斜功能与显微镜头部的光路相结合，布鲁克将检测点耦合到独立于倾斜的视线。这样可以减少操作员的干预，从而提供最大的可重复性。其他硬件功能包括用于更大拼接功能的创新载物台设计，以及带有1200x1000测量阵列的5MP相机，可实现更低的噪声，更大的视野和更高的横向分辨率。这些功能与自动分期和物镜相结合，使ContourX-500非常适合“按需测量“研发和工业计量，所有这些都在紧凑的占地面积内。
传统的俯仰和滚动载物台设计需要操作员调整五个运动轴，以保持在视线范围内的检查点以进行测量。独特的布鲁克刀头/倾斜头设计可保持检测点的视线，无论倾斜程度如何，从而优化图像采集并缩短数据获取时间。
通过Vision64的多区域直接提取微流体装置的底部通道进行分析。
ContourX-500 具有数千个自定义分析以及布鲁克简单易用但功能强大的 VisionXpress™ 和 Vision64® 用户界面，针对实验室和工厂车间的生产率进行了优化。布鲁克的新型通用扫描干涉测量 （USI） 测量模式可提供全自动、自感表面纹理、优化的信号处理，同时提供最准确、最真实的所分析表面形貌计算。
增强 3D 光学表面轮廓仪的横向分辨率
通过保护性包装、环境箱和其他分散材料实现高分辨率测量
通过系统硬件和软件升级最大限度地提高您的工作效率
参考成交价格：