技术指标
多镀层分析,1~5层
测试精度:0.001 μm
元素分析范围从铝(Al)到铀(U)
测量时间:10~30秒
SDD探测器,能量分辨率为125±5eV
探测器Be窗0.5mil(12.7μm)
微焦X射线管50kV/1mA,钼,铑靶(高配微焦钼靶)
6个准直器及多个滤光片自动切换
高清CCD摄像头(200万像素),准确监控位置
多变量非线性去卷积曲线拟合
高性能FP/MLSQ分析
仪器尺寸:450×520×385mm