美国X-rite VS3200成...
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产品规格

 

 


测量类型

 

 

图像或单点

 

 

测量几何结构

 

 

45/0成像分光光度仪

 

 

仪器台间差

 

 

平均0.15CIELAB

 

 

光谱范围

 

 

400-700nm@10nm

 

 

白色重复性

 

 

0.025CIELAB

 

 

孔径尺寸

 

 

2-12mm

 

 

色样架

 

 

位置感知

 

 

灯管寿命

 

 

约35万次测量

 

 

测量周期时间

 

 

<10S

 

 

测量触发

 

 

软件或按钮

 

 

工业标准

 

 

ASTM D2244,ASTM E179,ASTM E308,ASTM E1164,CIE  15,DIN 5033 Teil 7,DIN 5036,DIN 6174,ISO  7724,JIS Z 8722

 

 

与爱色丽45/0工业仪器相关性

 

 

 

尺寸(长、宽、高)

9.75“ W x 7.1“ H x 7.25“ D

湿度

0%到85%(不冷凝)

光斑尺寸

14 mm

测量期间图像接触

非接触式

光源

全光谱LED

光度测定范围

非接触式


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