高分辨率XRF岩芯扫描...
参数指标我要纠错


 
一、高分辨率XRF化学元素测量单元（2012年年底推出）：


  2. X射线源：15W/50kV, Rh 铑阳极（注：Rh铑阳极可以检测到硫S），空气冷却


  4. X射线检测器：Canberra Silicon Drift Detector, 15mm2 or 80mm2, FWHM: ~160eV Mn Kα


  6. X谱分析：Canberra WinAxil,


  8. 化学元素检测范围：Mg to U


  10. 空间分辨率（岩芯纵向）：10, 5, 2, 1 mm


  12. 岩芯横向检测点宽度：5, 10, or 15 mm


  14. 扫描时间：15分钟每米（当空间分辨率10毫米，6秒采样计数时间）


  16. 岩芯尺寸：直径50到150毫米，长度最大155厘米。


  18. 防X射线辐射措施：3毫米不锈钢外壳，仪器门具备安全锁停装置。


  20. 扫描单元尺寸：长2.9米，宽0.7米，高1.25米


  22. 主机单元尺寸：长55厘米，宽60厘米，高60厘米，主机单元位于扫描单元的左边或右边


  24. 电源：1.5 kW @ 220-240 V;氦气流量：Helium: 5-10 ml/分钟, 纯度99.5%


 
XRF的元素检测限：
检测限（Detection limits）与采样计数时间（count times）有关，下表是采用6秒采用计数时间（80平方毫米检测器）或采用30秒采用计数时间（15平方毫米检测器）时得到的数据：Mg7000、Al800、Si450、P500、S2000、K100、Ca40、Ti60、Mn15、Fe10、Br7、Sr2、Mo6、Ba27、Pb4.5、U3.
 
二、手持式XRF化学元素测量单元
手持式XRF传感器: Innov-X Alpha vacuum X-ray fluorescence spectrometer;
技术原理：能量散射X射线荧光光谱分析法（EDXRF)
测量化学元素：Ca, Ti,Cr, Mn, Fe, Co, Ni, Cu, Zn, As, Se, Rb, Sr, Mo, Ag, Cd, Sn, Sb, Ba, Hg, Pb
 
 
二、高分辨率彩色线性扫描成像系统Colour line scan camera imaging system：
一个3*2048 CCD的线性扫描光学成像系统，既可单独用于MSCL-CIS上，也可用于在MSCL-S和MSCL-XYZ上操作。摄像机的设计和标定保证了来自每个CCD阵列上的颜色都完全确定。图像的分辨率取决于岩芯的宽度，一般是50微米（Micron），大约500 dpi (dots per inch)。如果需要，可提供25微米（1000dpi像素）的分辨率。每个颜色通道的数据都可使得岩芯RGB图像剖面的分辨率大约0.1毫米，使沉积物岩芯的精细分层结构的微观分析成为现实。在MSCL-XYZ上使用该成像系统的优势是可以同时搭载多个岩芯（可达到9个），并且成像过程不须人照看。成像速度是每3分钟拍摄1.5米长的岩芯。

三、彩色分光光度计（Colour Spectrophotometer）：
彩色分光光度计用于精确的分析360纳米和740纳米之间的光谱（间隔10纳米）。传感器的头部接触在覆盖有很薄的塑料薄膜（clingfilm或其他薄膜）的岩芯表面，进行准确的颜色分析，空间分辨率为3毫米（需要使用一个3毫米的光圈，普通光圈为8毫米）。数据可以用来报告孟赛尔颜色系统（Munsell colours）（如果需要）。或者当不需要高精度的光学成像时，产生一个模拟色的岩芯图像。

 
四、可见光近红外光地物光谱仪（Vis/NIR Spectrometer）
波长范围：350 - 2500 nm
采样时间： 10 次/秒；
光谱平均： 高达 31,800 次；
探测器响应线性：+/-1%
色散元件:一个固定的两个快速旋转全息反射光栅
波长精度:+/-1nm
波长重复性: 优于+/-0.3nm@+/-10°C 温度变化
光谱分辨率: 3nm@700nm；6nm@1400nm；7nm@2150nm


我要提交参数指标
相关X荧光光谱/XRF（能量色散型X荧光光谱仪）