Si-PIN探测器参数指标

Moxtek公司成立于1986年，分为X射线部门和光学器件部门，是全球知名的高科技企业，为客户提供创新的产品应用方案。Moxtek生产的Si-PIN探测器基于公司超低噪声的JFET电路及优异的铍窗技术研制而成，主要应用于手持式或台式X射线荧光光谱仪中，作为能量分辨的探测器。

XPIN-BT探测器主要技术指标
有效探测面积：6 mm2 、 13 mm2
硅片厚度：450um、625um
铍窗厚度：8um、25um
准直器材料：W/Co/Ti/Al
能量分辨率：6 mm2 < 170eV FWHM
                       13 mm2: < 230eV FWHM
峰背比：6mm2: 3600/1 @ 1keV (typical)
               13mm2: 3000/1 @1keV (typical)

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