Vasco Kin原位时间分辨纳米粒度分析是新一代动态光散射纳米粒度分析仪,通过远程光学探头,进行原位非接触测量和反应动力学,用于监测纳米颗粒的合成、团聚或悬浮液稳定性的研究或监测。常用于实时纳米颗粒合成过程监控, 核反应堆内现场测量,与其它粒度特性测量仪器联用(如光谱仪、SAXS等)。
粒度测量范围 : 0.5nm 到 10μm
背向动态光散射原理,实时远程非接触测量
监测纳米颗粒合成过程;监测整个过程的粒度变化情况,有助于稳定性研究
全自动非接触测量:能穿透玻璃和塑料针管,测定包装物及反应釜中的粒度分布和随时间的变化
适用样品浓度:0.1ppm-40%(w/v)
时间分辨: DLS的分辨率为0.2s,用于动力学监测
随时间变化的粒度分布彩色地形图
“时间切片”功能:用户对测试后数据可进行任意时间段内的粒度分析
样品前处理:无需样品前处理,直接测试
硬件规格(核心单元):
1. 激光源: 高稳定性激光二极管(可选蓝光和绿光)
2. 探测器: 无伪影雪崩光电二极管(APD)
3. 计算设备: 内嵌专用电脑
4. 数据处理: NanoKin® 相关和分析软件
5. 典型测量时间:最快200ms。测量时间由样品和测量设置决定
6. 操作条件/存储条件:15℃ ~ 40℃ / -10℃ ~ 50℃ – 非冷凝相对湿度 < 70%
7. 尺寸/重量: 220 x 220 x 64 mm (上半部分) / 2.5 kg
220 x 220 x 48 mm (下半部分) / 2.8 kg