光腔衰荡光谱测量系统

光腔衰荡光谱测量系统技术特点

参考成交价格: 1~50000元[人民币]
技术特点

【技术特点】-- 光腔衰荡光谱测量系统

腔衰荡光谱测量系统(ppm级超高精度反射率测量)


光腔衰荡法准确测量高反射率镜片,测量精度可达百万分之一量级!波长范围宽,精度高,应用界面友好。

光腔衰荡光谱方法(CRDS, Cavity Ring-Down Spectroscopy)是一种基于高精细度谐振腔的高灵敏度探测技术,主要用于精确测量各种反射率大于99%的超高反射率反射镜的反射率,测量精度可达百万分之一量级!


光腔衰荡光谱方法通过对指数型的腔内衰荡信号的检测,摆脱了激光能量输出的起伏所引起的误差。由两片99.99% 反射率组成的光腔对损耗的测量精度可达ppm量级。


应用领域:

高反射镀膜层损耗的精密测量

正入射反射率R>>99%的平面或凹面光学元件的损耗测量

精度dR/R<2ppm @ R>99.5%

检测用激光波长可选(如≥355nm…532nm…633nm…1064nm…≤1319nm)

测量原理:

脉冲光或快速开关的连续光耦合进谐振腔

待测膜层在每次往返光程中经反射产生损耗

时间相关的输出信号的精确测量得到衰荡数据

脉冲光往返时间已知,根据衰荡的时间特点,得到反射率

技术指标:

测量反射率: R>>99%

精度: dR/R < 2ppm @ R>99.5%

样品/基底要求*: ?1”Or 0.5”, 厚度~6mm

基底透明,后表面平面抛光

*0o正入射测量,其他要求可订制。

供电电源:

激光器 100~240VAC, 50~60Hz

探测器 +/-9 VDC

接口: USB 2.0

含数据采集, A-D转换,数据处理等模块。软件包括反射率分析、生产数据录入及处理等。



【技术特点对用户带来的好处】-- 光腔衰荡光谱测量系统


【典型应用举例】-- 光腔衰荡光谱测量系统


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