AR-Meta，专业化的“超表面光场检测系统”

μm 级器件尺寸 / 1.7μm 近红外拓展 / 光场 + 焦距 + 成像分辨率

      AR-Meta 超表面光场检测系统 采用 消除像差 的光学设计，以商用设备实现 μm 量级超表面器件的原位、宽谱段的透 / 反射光场测量，并提供焦距、成像分辨率、点扩散函数、调制传递函数、斯特列尔比、数值孔径、偏折效率等关键测量指标分析。结合丰富的偏振器件，为您带来一款“专业化”的超表面与超透镜光场检测平台。

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