VeraFlex是一个广泛适用、可以量测product wafer和对材料没有破坏性的量测系统。它的出现满足了对先进材料进行量测的要求。VeraFlex有能力对超薄膜和原子水平的材料进行量测，以满足下一代半导体的生产要求。 

在生产中，VeraFlex可以监控、量测和控制精密的材料制程。 

对新的应用的探索将满足客户对65nm、45nm以及更精密制程的需求。