SPIP材料表面分析软件参数指标

多年来，扫描探针图像处理软件SPIP™，已经成为实际意义上的纳米级图像处理的标准。第一版SPIP™发布于1995年。然而Image Metrology公司的创始人Dr.Jan F. Jørgensen已于5年前就开始在其工科博士研究部分项目中开发SPIP™图像处理软件。期间曾与IBM及丹麦基础计量研究所及丹麦科技大学等单位合作开发SPIP™软件。
在超过42个国家的前沿的研究机构和高科技公司将SPIP™图像处理软件应用于半导体检测中，物理，材料科学，化学，生物学，计量学技术，纳米技术等很多领域。
 
 
SPIP™图形分析软件支持包括扫描探针显微（SPM），干涉显微镜，扫描电子显微镜（SEM），共聚焦显微镜，光学显微镜，和三维轮廓仪等各种类型的显微镜及他们所生成的数据文件。无论你是资深的用户或者是刚刚入门的图像处理的初学者。使用SPIP™图像处理软件，您只需点击几下鼠标即可得到您需要的分析结果。
SPIP™图像处理软件是一个模块化的软件，提供包括一个基础软件分析模块和13个可选的附加模块。基础模块包含必要的基本特征分析，例如文件读取、数据分析、平面校正等功能。附加模块则是为针对某些特定功能测试提供，包括归一化校准、降低噪声、分析、3D构建。在随后的彩页中你会发现各项功能的详细介绍。从中您可以学到如何提高您工作的效率和质量。