【技术特点】-- EM13 LD系列多入射角激光椭偏仪

特点：

• 次纳米的高灵敏度

  国际先进的采样方法、稳定的核心器件、高质量的制造工艺实现并保证了能够测量极薄纳米薄膜，膜厚精度可达到0.5nm。

• 3秒的快速测量

  国际水准的仪器设计，在保证精度和准确度的同时，可在3秒内快速完成一次测量，可对纳米膜层生长过程进行测量。

• 简单方便的仪器操作

  用户只需一个按钮即可完成复杂的材料测量和分析过程，数据一键导出。丰富的模型库、材料库方便用户进行高级测量设置。

【技术特点对用户带来的好处】-- EM13 LD系列多入射角激光椭偏仪

【典型应用举例】-- EM13 LD系列多入射角激光椭偏仪