技术参数：

754型紫外可见分光光度计技术参数： 
1. 带宽：4nm 
2. 透射比准确度：±0.5%T 
3. 透射比重复性：±0.2%T 
4. 波长范围：190～1100nm(步进间隔0.1nm) 
5. 波长准确度：±1.0nm(开机自动校准) 
6. 波长重复性：0.5nm 
7. 测定范围：T：-1.0～200.0%T，A：-0.5～3.000Abs，F：0～9999，C：0～9999 
8. 杂散光：≤0.3%T(在220nm、340nm处)) 
9. 稳定性/基线漂移：±0.002A/h 
10. 显示器：128×64大屏幕液晶显示 
11. 外形尺寸：456*375*220(mm) 
软件功能说明：754型紫外可见分光光度计适用于数据处理软件进行实验测试和数据处理