赛默飞ELEMENT GD Plu...

赛默飞ELEMENT GD Plus辉光放电质谱仪参数指标

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了解如何借助 Thermo Scientific™ ELEMENT GD™ PLUS GD-MS 为固体中高级高纯度材料的直接分析定义新的标准。通过zei大限度减少校准和样品制备操作,可提高样品处理量并达到超低检测限,从而使 GD-MS 适合整块金属分析和深度剖析应用。 


陶瓷和其他几种非导电粉末使用二次电极法进行分析,从而提供相同水平的灵敏度和数据质量。这使得 GD-MS 成为痕量金属分析的可靠标准方法。


货号:IQLAAEGAAMFABWMAFA

动态范围:>1012线性,具有自动交叉校准功能

暗噪声:≤ 0.5 cps


产品规格

冷却水:~200 L/h;温度 10° 至 20°C

暗噪声:≤ 0.5 cps

电子排气装置:1 x 150 mm、400 m3/h

质量分辨率:3 种固定分辨率:≥300;≥ 4,000;≥ 10,000

质量稳定性:25 ppm / 8 小时

泵式排气装置:1 x 25 mm、1 L/min

分辨率切换时间:< 1s

动态范围:>1012线性,具有自动交叉校准功能

功率:3 相,230/400 V ± 10%,50/60 Hz 熔断电流 32 A/相

扫描速度:<150 Ms 来自m/z7 至 238 至 7(磁性);1 ms/跳线,与质量范围无关(电)

灵敏度:>1 x 1010cps (1.6 x 10-9A) ,对于中等分辨率下的铜峰(峰高,总离子电流)而言

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