Sphere-3000 光学元件反射率测量仪技术特点

【技术特点】-- Sphere-3000 光学元件反射率测量仪

Sphere-3000光学元件反射率测量仪，能快速准确地测量各类球面/非球面器件的相对/绝对反射率，适用于凸透镜、凹透镜、镜片等的镀膜反射率测量，还可进行有干涉条纹的单层膜厚或折射率测量。

仪器特点：

• CIE颜色测定 X Y色度图，x，y，L,a,b，饱和度，主波长等；

• 显微测定微小区域的反射率，物镜对焦于被测物微小区域（φ60μm）；

• 消除背面反射光，无需进行背面防反射处理即可快速准确地测定表面反射率；
  

技术参数：

	Sphere-3000（II型）	Sphere-3000（III型）	Sphere-3000-NIR
探测器	Hamamatsu背照式2D-CCD	Hamamatsu背照式2D-CCD(制冷)	Hamamatsu InGaAs探测器(制冷)
检测范围	380~1100nm	380~1100nm	900~1700nm
波长分辨率	1nm	1nm	3nm
信噪比	450:1	1000:1	10000:1
相对检测误差	＜0.75%	＜0.5%	＜0.5%
被测物再现性	±0.1%以下(380nm~410nm) ±0.05%以下(410nm~900nm)	±0.1%以下(380nm~400nm) ±0.05%以下(400nm~900nm)	±0.1%以下 （1000~1650nm）
测定方法	与标准物比较测定
单次测量时间	＜1s
精度	0.3nm
被测物N.A	0.12(使用10×对物镜时) 0.24(使用20×对物镜时)
被测物尺寸	直径>1mm 厚度>1mm(使用10×对物镜时) 厚度>0.5mm(使用20×对物镜时)厚度>0.1mm(使用50×对物镜时)
被测物测定范围	约φ100um(使用10×对物镜时) 约φ60um(使用20×对物镜时) 约φ30um(使用50×对物镜时)
设备重量	约22kg（光源外置）
设备尺寸	300(W)×550(D)×570(H)mm
使用环境	水平且无振动的场所；温度：23±5℃；湿度：60％以下、无结露；
操作系统	Windows7~Windows10
软件	分光反射率、物体颜色、单层膜厚(有干涉条纹)和镀膜(有干涉条纹)折射率测定

【技术特点对用户带来的好处】-- Sphere-3000 光学元件反射率测量仪

【典型应用举例】-- Sphere-3000 光学元件反射率测量仪