【技术特点】-- 2600B 系列 SMU

满足您的所有生产测试需求，在同一空间内有两条完全隔离的宽动态源和测量通道。

每条 40 W 通道提供 6½ 位精确分辨率源，在小于 100 µs 脉冲宽度和设定值的 0.1% 范围内，测量 10 A 到 0.1 fA 和 200 V 到 100 nV。

满足您的所有生产测试需求，在同一空间内有两条完全隔离的宽动态源和测量通道。 每条 40 W 通道提供 6½ 位精确分辨率源，在小于 100 µs 脉冲宽度和设定值的 0.1% 范围内，测量 10 A 到 0.1 fA 和 200 V 到 100 nV。

TSP-Link® 技术支持扩展多达 64 条通道，支持高速、SMU-per-pin 并行测试（而不使用主机）。 <500 ns 时所有通道同时独立受控。

【技术特点对用户带来的好处】-- 2600B 系列 SMU

【典型应用举例】-- 2600B 系列 SMU