全自动粒度仪和Zeta电位测定仪技术特点

【技术特点】-- 全自动粒度仪和Zeta电位测定仪

SZ100全自动粒度仪和Zeta电位测定仪
纳米粒度/Zeta电位分析仪概要：纳米颗粒系列仪器可以灵活地测量分析微粒的物理性质。它可用于粒度大小分析仪，也可用于Zeta电位、分子量（MW）和维里系数（A2）的测量。SZ-100的典型应用包括：纳米粒子、胶体、乳胶和亚微细粒悬浮液的测量。
粒度分析通过动态光散射（DLS）实现，对于不同物理性质的样品，其测量动态范围为：0.3nm-8um.它的检测下限受样品浓度、散射光强度和存在的大粒度干扰粒子的影响，监测上限受样品的浓度影响，因为动态散射光的运动模式来自于布朗运动而非重力沉降。
离子表面电荷具有用测量Zeta电位悬停的特征。将样品注射进样品池，由粒子电泳淌度得出Zeta电位。样品的Zeta电位通常作为散布稳定性的指示，大数量级的Zeta电位值表明静电稳定悬浮将会保持稳定，Zeta电位的测量通常作为PH或者其他化学过程中的变化，以帮助配方设计师创造出保存期限更长的新产品。相反地，识别条件在Zeta电位为零时（也就是说样品在等电点）允许为粒子絮凝化和分离选择最佳条件。
这款仪器还能够用于测量分子量、蛋白质、聚合物和其他分子的第二维里系数。操作者准备几种已知浓聚物的溶液，然后用系统的静态光散射模式去创建一个Debye图，通过这个结果可以算出MW和A2.

【技术特点对用户带来的好处】-- 全自动粒度仪和Zeta电位测定仪

【典型应用举例】-- 全自动粒度仪和Zeta电位测定仪