一仪器概述

    QCM-D技术的核心是石英晶体传感器，它由石英晶体夹在两片电极中间形成三明治结构。在电极两端加入一个交流电压，在传感器的共振频率处引发一个小的剪切振动，当交流电压关闭后，振动呈指数衰减，这个衰减被记录下来，得到共振频率(f)和耗散因子(D)两个参数。 

    对于薄层硬质薄膜，可以使用Sauerbrey关系和公式，根据传感器振动计算吸附层的质量。当沉积的薄膜松散和粘性时，能量通过薄膜上的摩擦被消耗，传感器的振动发生衰减，耗散因子提供了传感器上吸附的薄膜的结构信息。通过使用多个频率和耗散因子数据，使用粘弹性模型而非Sauerbrey关系，我们可以计算得到质量、厚度、粘度和弹性。

二 技术指标

传感器和样品处理系统的技术参数如下： 
1、传感器晶体: 5MHz，直径14mm，抛光，金电极 
2、传感器数量: 4个，也可使用1、2或3个 
3、传感器上方体积: 40ul，采用5MHz晶体，Q-Sense流动模块 
4、最小样品体积: 200ul 
5、工作温度: 15-65°C(可选项:4-150°C)，由软件控制; 控温精度为：0.02°C 
6、流动速率: 0-1 ml/min 
7、清洁处理: 所有与液体接触元件均可拆卸，并可在超声波浴中清洗