【技术特点】-- 理学组合型多功能水平X射线衍射仪Ultima Ⅳ

主要的应用有：
1. 粉末样品的物相定性与定量分析
2. 计算结晶化度、晶粒大小
3. 确定晶系、晶粒大小与畸变
4. Rietveld结构分析
5. 薄膜样品分析，包括薄膜物相、多层膜厚度、表面粗糙度，电荷密度
6. In-Plane装置可以同时测量样品垂直方向的结构及样品深度方向的结构
7. 小角散射与纳米材料粒径分布
8. 微区样品的分析

【技术特点对用户带来的好处】-- 理学组合型多功能水平X射线衍射仪Ultima Ⅳ

【典型应用举例】-- 理学组合型多功能水平X射线衍射仪Ultima Ⅳ