nanoVoxel 3000系列X射线三维显微CT参数指标

nanoVoxel3000系列是显微CT中的旗舰产品，拥有500nm的真实空间分辨率和最小70nm的体素，具备先进的无损三维成像能力和图像分析能力，在相称成像和超分辨成像方面更有着出色的表现。前所未有的超清图像，让所闻、所想即刻呈现在你的面前。完美、精细、无损的对材料内部进行微观结构进行三维可视化表征，为材料性能的评价和工艺研发提供准确、可靠的技术解决方案。

电子元器件

X射线无损三维检测可以直观显示元器件表面及其内部一定深度的结构，有助于电子元件封装过程中内部缺陷的检测。可针对但不限于球栅阵列器件BGA浸润不良、内部裂纹、空洞、多锡、少锡等问题，以及复杂精密组装部件中的坏件、错件、隐藏元件、PCB开/短路、功能失效，脚翘、脚弯等问题进行无损三维成像检测，还可广泛应用于第三代半导体器件、超大规模集成电路以及量子功能器件等新型交叉研究领域，实现无损表征产品的内部结构及位置关系、内部成分构成比例检测，洞察微失效及加工缺陷，在电子封装领域开展多方面的研究工作。